Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of Si[subscript 1-x]Ge[subscript x] in c-plane sapphire substrate [[electronic resource] /] / Hyun Jung Kim ... [and others]
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| Titolo: |
Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of Si[subscript 1-x]Ge[subscript x] in c-plane sapphire substrate [[electronic resource] /] / Hyun Jung Kim ... [and others]
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| Pubblicazione: | Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2012] |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (ix, 29 pages) : illustrations (some color) |
| Soggetto topico: | Ion beams |
| Sapphire | |
| Transmission electron microscopy | |
| X ray diffraction | |
| Single crystals | |
| Rhombohedrons | |
| Germanium | |
| Density measurement | |
| Crystal structure | |
| Altri autori: |
KimHyŏn-jŏng
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on Nov. 7, 2012). |
| "August 2012." | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 29). |
| Altri titoli varianti: | Transmission electron microscopy |
| Titolo autorizzato: | Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of SiGesubscript x in c-plane sapphire substrate |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910702249303321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |