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Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of Si[subscript 1-x]Ge[subscript x] in c-plane sapphire substrate
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Marc (testo)
Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of SiGesubscript x in c-plane sapphire substrate
ID:
3514720
Creatori:
(1403869) Kim, Hyŏn-jŏng
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