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Titolo: |
Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of Si[subscript 1-x]Ge[subscript x] in c-plane sapphire substrate [[electronic resource] /] / Hyun Jung Kim ... [and others]
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Pubblicazione: | Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2012] |
Descrizione fisica: | 1 online resource (ix, 29 pages) : illustrations (some color) |
Soggetto topico: | Ion beams |
Sapphire | |
Transmission electron microscopy | |
X ray diffraction | |
Single crystals | |
Rhombohedrons | |
Germanium | |
Density measurement | |
Crystal structure | |
Altri autori: |
KimHyŏn-jŏng
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Note generali: | Title from title screen (viewed on Nov. 7, 2012). |
"August 2012." | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 29). |
Altri titoli varianti: | Transmission electron microscopy |
Titolo autorizzato: | Transmission electron microscopy (TEM) sample preparation of SiGesubscript x in c-plane sapphire substrate ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910702249303321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |