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IEEE STD 1671.2-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML: Exchanging Instrument Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE STD 1671.2-2008 : IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML: Exchanging Instrument Descriptions / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (ix, 216 pages)
Disciplina 621.381548
Soggetto topico Automatic test equipment
Digital electronics
ISBN 0-7381-5804-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.2-2008 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE STD 1671.2-2008
IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language
Record Nr. UNINA-9910141948403321
New York : , : IEEE, , 2008
Materiale a stampa
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IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2013
Descrizione fisica 1 online resource (ix, 40 pages) : illustrations
Disciplina 621.381548
Soggetto topico Automatic test equipment
Digital electronics
ISBN 0-7381-8144-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.2-2012 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description
IEEE Std 1671.2-2012
Record Nr. UNISA-996278287403316
New York : , : IEEE, , 2013
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IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2013
Descrizione fisica 1 online resource (ix, 40 pages) : illustrations
Disciplina 621.381548
Soggetto topico Automatic test equipment
Digital electronics
ISBN 0-7381-8144-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.2-2012 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.2-2012 (Revision of IEEE Std 1671.2-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description
IEEE Std 1671.2-2012
Record Nr. UNINA-9910135876303321
New York : , : IEEE, , 2013
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IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (viii, 22 pages) : illustrations
Disciplina 005.72
Soggetto topico XML (Document markup language)
Automatic test equipment
Digital electronics
ISBN 0-7381-5370-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.4-2007 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.4-2007
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
Record Nr. UNINA-9910135875603321
New York : , : IEEE, , 2008
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IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
IEEE Std 1671.4-2007 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2008
Descrizione fisica 1 online resource (viii, 22 pages) : illustrations
Disciplina 005.72
Soggetto topico XML (Document markup language)
Automatic test equipment
Digital electronics
ISBN 0-7381-5370-2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti 1671.4-2007 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.4-2007
IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
Record Nr. UNISA-996278286903316
New York : , : IEEE, , 2008
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IET computers & digital techniques / / IET
IET computers & digital techniques / / IET
Pubbl/distr/stampa Stevenage, Herts. : , : Institution of Engineering and Technology, , ©2007-
Descrizione fisica 1 online resource
Disciplina 621
Soggetto topico Computers
Digital electronics
Soggetto genere / forma Periodical
Periodicals.
Soggetto non controllato Electrical Engineering
ISSN 1751-861X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IET computers and digital techniques
IET Comput. Digit. Tech
Record Nr. UNINA-9910145603403321
Stevenage, Herts. : , : Institution of Engineering and Technology, , ©2007-
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IET computers & digital techniques / / IET
IET computers & digital techniques / / IET
Pubbl/distr/stampa Stevenage, Herts. : , : Institution of Engineering and Technology, , ©2007-
Descrizione fisica 1 online resource
Disciplina 621
Soggetto topico Computers
Digital electronics
Soggetto genere / forma Periodical
Periodicals.
Soggetto non controllato Electrical Engineering
ISSN 1751-861X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti IET computers and digital techniques
IET Comput. Digit. Tech
Record Nr. UNISA-996204857203316
Stevenage, Herts. : , : Institution of Engineering and Technology, , ©2007-
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Imaging update
Imaging update
Pubbl/distr/stampa [Fair Oaks, CA], : Advanced Technology Information, ©1986-
Disciplina 338
Soggetto topico Digital electronics
Digital cameras
Image processing - Digital techniques
Soggetto genere / forma Periodicals.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910134105803321
[Fair Oaks, CA], : Advanced Technology Information, ©1986-
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Imaging update
Imaging update
Pubbl/distr/stampa [Fair Oaks, CA], : Advanced Technology Information, ©1986-
Disciplina 338
Soggetto topico Digital electronics
Digital cameras
Image processing - Digital techniques
Soggetto genere / forma Periodicals.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996213555903316
[Fair Oaks, CA], : Advanced Technology Information, ©1986-
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IMFEDK 2014 : 2014 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai : June 19-20, 2014, Ryukoku University Avanti Kyoto Hall, Kyoto, Japan / / sponsors, IEEE EDS Kansai Chapter [and seven others]
IMFEDK 2014 : 2014 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai : June 19-20, 2014, Ryukoku University Avanti Kyoto Hall, Kyoto, Japan / / sponsors, IEEE EDS Kansai Chapter [and seven others]
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2014
Descrizione fisica 1 online resource (137 pages)
Disciplina 621.39
Soggetto topico Digital electronics
Semiconductors
ISBN 1-4799-3615-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-996280022403316
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2014
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