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| Autore: |
Amerasekera E. A
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| Titolo: |
ESD in silicon integrated circuits
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : J Wiley, 2002 |
| Edizione: | 2nd ed. |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (421 pages) |
| Disciplina: | 621.3815/2 |
| Soggetto topico: | Semiconductors - Protection |
| Integrated circuits - Protection | |
| Electrostatics | |
| Static eliminators | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Electrical Engineering | |
| Persona (resp. second.): | DuvvuryCharvaka |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Sommario/riassunto: | Electrostatic discharge (ESD) effects in silicon integrated circuits have become a major concern as high circuit density technologies shrink to sub-micron dimensions. This update of a classic reference provides a complete and current overview of ESD and its implications in the design and development of new semiconductor technologies and integrated circuits. |
| Titolo autorizzato: | ESD in silicon integrated circuits ![]() |
| ISBN: | 1-280-55472-X |
| 9786610554720 | |
| 0-470-85212-7 | |
| 0-470-84605-4 | |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9911020251203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |