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| Autore: |
Kempe Michael D
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| Titolo: |
Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules [[electronic resource] /] / Mike Kempe, Kent Terwilliger, and Dale Tarrant
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| Pubblicazione: | Golden, CO : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2008] |
| Descrizione fisica: | 18 unnumbered slides : digital, PDF file |
| Soggetto topico: | Photovoltaic cells - Research |
| Solar cells - Testing | |
| Soggetto genere / forma: | Conference papers and proceedings. |
| Altri autori: |
TerwilligerKent
TarrantD. E (Dale E.)
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| Note generali: | Title from title screen (viewed Apr. 16, 2009). |
| "Presented at the 33rd IEEE Photovoltaic Specialist[s] Conference held May 11-16, 2008 in San Diego, California." | |
| Altri titoli varianti: | Stress Induced Degradation Modes in CIGSS Minimodules |
| Titolo autorizzato: | Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910702878303321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |