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Titolo: | Recombination lifetime measurements in silicon |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : ASTM, 1998 |
Disciplina: | 621.3815/2 |
Soggetto topico: | Semiconductors - Testing - Congresses |
Service life (Engineering) - Congresses - Forecasting | |
Electronic measurements - Congresses | |
Electrical & Computer Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Electrical Engineering | |
Persona (resp. second.): | HughesWilliam M. <1948-> |
BacherFred R | |
GuptaD. C | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | Recombination lifetime measurements in silicon |
ISBN: | 0-8031-5389-9 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910164289503321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |