Microelectronic test patterns NBS-12 and NBS-24 / / G. P. Carver; R. L. Mattis; M. G. Buehler
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| Autore: |
Carver G. P
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| Titolo: |
Microelectronic test patterns NBS-12 and NBS-24 / / G. P. Carver; R. L. Mattis; M. G. Buehler
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| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Altri autori: |
BuehlerM. G
CarverG. P
MattisRichard L
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| Note generali: | 1981. |
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| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Microelectronic test patterns NBS-12 and NBS-24 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910710225203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |