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Titolo: | Documentation for Reference Material (RM) 8820 : a versatile, multipurpose dimensional metrology calibration standard for scanned particle beam, scanned probe, and optical microscopy / / Michael T. Postek, Andras E. Vladar, Bin Mang, Benjamin Bunday |
Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2014 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (315 pages) : illustrations (black and white) |
Soggetto topico: | Metrology |
Microscopy | |
Altri autori: | CrowleyChris J JohnsonAaron N PopeJodie G WrightJohn D |
Note generali: | "January 2014." |
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
Title from PDF title page (viewed February 6, 2014). | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | Documentation for Reference Material |
Titolo autorizzato: | Documentation for Reference Material (RM) 8820 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910709583403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |