Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials / Igor Djerdj
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Autore: |
Djerdj Igor
|
| Titolo: |
Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials / Igor Djerdj
|
| Pubblicazione: | MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute, 2019 |
| Basel, Switzerland : , : MDPI, , 2019 | |
| Descrizione fisica: | 1 electronic resource (88 p.) |
| Soggetto topico: | Chemistry |
| Soggetto non controllato: | Rietveld method |
| Structural characterization | |
| Microstructural analysis | |
| Crystalline materials | |
| Structural materials | |
| X-ray and neutron diffraction | |
| Functional materials | |
| Sommario/riassunto: | This Special Issue serves as a crystallographic forum covering various aspects of material science that have in common the use of the powerful Rietveld method in the analysis of the powder XRD patterns of investigated compounds. |
| Titolo autorizzato: | Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials |
| ISBN: | 9783038975281 |
| 3038975281 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910346672903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |