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Autore: |
Sarney Wendy L
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Titolo: |
Sample preparation procedure for TEM imaging of semiconductor materials [[electronic resource] /] / by Wendy L. Sarney
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Pubblicazione: | Aberdeen Proving Ground, MD : , : Army Research Laboratory, , [2004] |
Descrizione fisica: | 1 online resource (iv, 10 pages) : illustrations |
Soggetto topico: | Semiconductors - Sampling - United States |
Transmission electron microscopy | |
Note generali: | Title from title screen (viewed on Dec. 3, 2010). |
"June 2004." | |
000688067 | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | Sample preparation procedure for Transmission Electron Microscopy imaging of semiconductor materials |
Titolo autorizzato: | Sample preparation procedure for TEM imaging of semiconductor materials ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910699726803321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |