Sample preparation procedure for TEM imaging of semiconductor materials [[electronic resource] /] / by Wendy L. Sarney
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| Autore: |
Sarney Wendy L
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| Titolo: |
Sample preparation procedure for TEM imaging of semiconductor materials [[electronic resource] /] / by Wendy L. Sarney
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| Pubblicazione: | Aberdeen Proving Ground, MD : , : Army Research Laboratory, , [2004] |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (iv, 10 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Semiconductors - Sampling - United States |
| Transmission electron microscopy | |
| Note generali: | Title from title screen (viewed on Dec. 3, 2010). |
| "June 2004." | |
| 000688067 | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Altri titoli varianti: | Sample preparation procedure for Transmission Electron Microscopy imaging of semiconductor materials |
| Titolo autorizzato: | Sample preparation procedure for TEM imaging of semiconductor materials |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910699726803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |