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Titolo: |
Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings
![]() |
Pubblicazione: | Washington : , : U.S. National Bureau of Standards, , 1964 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (vi, 359 pages) : illustrations |
Disciplina: | 535.5 |
Soggetto topico: | Polarization (Light) |
Surfaces (Technology) | |
Thin films | |
Persona (resp. second.): | KrugerJerome |
PassagliaElio | |
StrombergR. R. | |
Note generali: | Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. |
Edited by E. Passaglia, R.R. Strombery, and J. Kruger. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films |
Titolo autorizzato: | Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910712920003321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |