Vai al contenuto principale della pagina
| Titolo: |
Documentation for Reference Material (RM) 8820 : a versatile, multipurpose dimensional metrology calibration standard for scanned particle beam, scanned probe, and optical microscopy / / Michael T. Postek, Andras E. Vladar, Bin Mang, Benjamin Bunday
|
| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2014 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (315 pages) : illustrations (black and white) |
| Soggetto topico: | Metrology |
| Microscopy | |
| Altri autori: |
CrowleyChris J
JohnsonAaron N
PopeJodie G
WrightJohn D
|
| Note generali: | "January 2014." |
| Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. | |
| Title from PDF title page (viewed February 6, 2014). | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Altri titoli varianti: | Documentation for Reference Material |
| Titolo autorizzato: | Documentation for Reference Material (RM) 8820 ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910709583403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |