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| Autore: |
Woodworth Andrew A.
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| Titolo: |
Characterization of 4H <000-1> silicon carbide films grown by solvent-laser heated floating zone / / Andrew A. Woodworth [and four others]
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| Pubblicazione: | Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , 2012 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (6 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Silicon carbides |
| Single crystals | |
| Crystal growth | |
| Laser heating | |
| X ray diffraction | |
| Diffraction patterns | |
| Note generali: | Title from title screen (viewed on Aug. 21, 2014). |
| "September 2012." | |
| "Prepared for the 2012 Spring Meeting and Exhibit sponsored by the Materials Research Society, San Francisco, California, April 9-13, 2012." | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 6). |
| Titolo autorizzato: | Characterization of 4H silicon carbide films grown by solvent-laser heated floating zone ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910702487203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |