Analysis of dimensional metrology standards / / John Evans; Simon Frechette; John Horst; Hui Huang; Thomas Kramer; Elena Messina; Fred Proctor; Bill Rippey; Harry Scott; Ted Vorburger; Al Wavering
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| Autore: |
Evans John
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| Titolo: |
Analysis of dimensional metrology standards / / John Evans; Simon Frechette; John Horst; Hui Huang; Thomas Kramer; Elena Messina; Fred Proctor; Bill Rippey; Harry Scott; Ted Vorburger; Al Wavering
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| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2001 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Altri autori: |
EvansJohn
FrechetteSimon
HorstJohn
HuangHui
KramerThomas
MessinaE. R (Elena R.)
ProctorFrederick M
RippeyBill
ScottHarry
VorburgerTed
WaveringAl
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| Note generali: | 2001. |
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| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Analysis of dimensional metrology standards |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910710526703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |