Analysis of dimensional metrology standards / / John Evans; Simon Frechette; John Horst; Hui Huang; Thomas Kramer; Elena Messina; Fred Proctor; Bill Rippey; Harry Scott; Ted Vorburger; Al Wavering
Pubbl/distr/stampa
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2001
Descrizione fisica
1 online resource
Collana
NISTIR ; ; 6847
Altri autori (Persone)
EvansJohn
FrechetteSimon
HorstJohn
HuangHui
KramerThomas
MessinaE. R (Elena R.)
ProctorFrederick M
RippeyBill
ScottHarry
VorburgerTed
WaveringAl
Lingua di pubblicazione
Inglese
Formato
Materiale a stampa
Livello bibliografico
Monografia
Note generali
2001.
Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.