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Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules [[electronic resource] /] / Mike Kempe, Kent Terwilliger, and Dale Tarrant



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Autore: Kempe Michael D Visualizza persona
Titolo: Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules [[electronic resource] /] / Mike Kempe, Kent Terwilliger, and Dale Tarrant Visualizza cluster
Pubblicazione: Golden, CO : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2008]
Descrizione fisica: 18 unnumbered slides : digital, PDF file
Soggetto topico: Photovoltaic cells - Research
Solar cells - Testing
Soggetto genere / forma: Conference papers and proceedings.
Altri autori: TerwilligerKent  
TarrantD. E (Dale E.)  
Note generali: Title from title screen (viewed Apr. 16, 2009).
"Presented at the 33rd IEEE Photovoltaic Specialist[s] Conference held May 11-16, 2008 in San Diego, California."
Altri titoli varianti: Stress Induced Degradation Modes in CIGSS Minimodules
Titolo autorizzato: Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910702878303321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui