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Titolo: | 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified] : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2020 |
Descrizione fisica: | 1 online resource |
Disciplina: | 519.5 |
Soggetto topico: | Robust statistics |
Sommario/riassunto: | On Line Testing and Robust Electronic System Design. |
Altri titoli varianti: | 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design |
Titolo autorizzato: | 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
ISBN: | 1-7281-8187-9 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996575519503316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |