Structural, Syntactic, and Statistical pattern recognition : Joint IAPR International workshops SSPR 2006 and SPR 2006 / Dit-Yan Yeung : Hong Kong, CHina, August 17-19, 2006 : proceedings
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| Titolo: |
Structural, Syntactic, and Statistical pattern recognition : Joint IAPR International workshops SSPR 2006 and SPR 2006 / Dit-Yan Yeung : Hong Kong, CHina, August 17-19, 2006 : proceedings
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| Pubblicazione: | Berlin : Springer, copyr. 2006 |
| Descrizione fisica: | XXI, 939 p. : ill. ; 20 cm |
| Disciplina: | 006.424 |
| Soggetto topico: | Ottica <informatica> - Simulazione - Hong Kong - 2006 - Impiego degli elaboratori elettronici - Congressi |
| Persona (resp. second.): | YEUNG, Dit-Yan |
| Titolo autorizzato: | Structural, Syntactic, and Statistical pattern recognition |
| ISBN: | 3-540-37236-9 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990002972340203316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Collocazione: | 001 LNCS 4109 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Lecture notes in computer science ; 4109
Fa parte di:
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| Biblioteca: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |