Structural, Syntactic, and Statistical pattern recognition : Joint IAPR International workshops SSPR 2006 and SPR 2006 / Dit-Yan Yeung : Hong Kong, CHina, August 17-19, 2006 : proceedings

• Record Nr.: UNISA990002972340203316
• Pubbl/distr/stampa: Berlin : Springer, copyr. 2006
• ISBN: 3-540-37236-9
• Descrizione fisica: XXI, 939 p. : ill. ; 20 cm
• Collana: Lecture notes in computer science ; 4109
• Disciplina: 006.424
• Soggetti: Ottica <informatica> - Simulazione - Hong Kong - 2006 - Impiego degli elaboratori elettronici - Congressi
• Collocazione: 001 LNCS 4109
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia