In Situ Real-Time Characterization of Thin Films / edited by Orlando Auciello , Alan R. Krauss
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| Titolo: |
In Situ Real-Time Characterization of Thin Films / edited by Orlando Auciello , Alan R. Krauss
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| Pubblicazione: | New York : John Wiley and Sons, copyr. 2001 |
| Descrizione fisica: | 263 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 530.4275 |
| Soggetto topico: | Film sottili |
| Persona (resp. second.): | AUCIELLO, Orlando |
| KRAUSS, Alan R. | |
| Titolo autorizzato: | In Situ Real-Time Characterization of Thin Films |
| ISBN: | 0-471-24141-5 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990002409740203316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Collocazione: | 530.4275 INS |
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| Biblioteca: | Univ. di Salerno |
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