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1. |
Record Nr. |
UNISA990002409740203316 |
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Titolo |
In Situ Real-Time Characterization of Thin Films / edited by Orlando Auciello , Alan R. Krauss |
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Pubbl/distr/stampa |
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New York : John Wiley and Sons, copyr. 2001 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Collocazione |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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