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Titolo: | ICMTS 2004 : proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 22-25, 2004, Awaji Yumebutai International Conference Center, Japan |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE, 2004 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
Semiconductors - Testing | |
Electronic apparatus and appliances - Testing | |
Electrical & Computer Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Electrical Engineering | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | ICMTS 2004 : proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 22-25, 2004, Awaji Yumebutai International Conference Center, Japan |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910873062103321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |