2000 5th International Workshop on Statistical Metrology

• Pubblicazione: [Place of publication not identified], : I E E E, 2000
• Descrizione fisica: 1 online resource (90 pages) : illustrations
• Disciplina: 621.3815/2/0287
• Soggetto topico: Semiconductors - Characterization - Statistical methods; Semiconductors
• Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
• Titolo autorizzato: 2000 5th International Workshop on Statistical Metrology
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 9910872506903321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II