Record Nr.

UNINA9910872506903321

Titolo

2000 5th International Workshop on Statistical Metrology

Pubbl/distr/stampa


[Place of publication not identified], : I E E E, 2000

Descrizione fisica

1 online resource (90 pages) : illustrations

Disciplina

621.3815/2/0287

Soggetti

Semiconductors - Characterization - Statistical methods

Semiconductors

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph