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Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings



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Titolo: Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings Visualizza cluster
Pubblicazione: Washington : , : U.S. National Bureau of Standards, , 1964
Descrizione fisica: 1 online resource (vi, 359 pages) : illustrations
Disciplina: 535.5
Soggetto topico: Polarization (Light)
Surfaces (Technology)
Thin films
Persona (resp. second.): KrugerJerome
PassagliaElio
StrombergR. R.
Note generali: Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes.
Edited by E. Passaglia, R.R. Strombery, and J. Kruger.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Altri titoli varianti: Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films
Titolo autorizzato: Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910712920003321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui