Recombination lifetime measurements in silicon
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| Titolo: |
Recombination lifetime measurements in silicon
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : ASTM, 1998 |
| Disciplina: | 621.3815/2 |
| Soggetto topico: | Semiconductors - Testing - Congresses |
| Service life (Engineering) - Congresses - Forecasting | |
| Electronic measurements - Congresses | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Electrical Engineering | |
| Persona (resp. second.): | HughesWilliam M. <1948-> |
| BacherFred R | |
| GuptaD. C | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | Recombination lifetime measurements in silicon |
| ISBN: | 0-8031-5389-9 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910164289503321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |