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Titolo: |
2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Conference Center, S. Lake Tahoe, California, October 17-20, 2005
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Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Electron Devices Society, 2005 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Reliability |
Integrated circuits - Reliability - Wafer-scale integration | |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Conference Center, S. Lake Tahoe, California, October 17-20, 2005 ![]() |
ISBN: | 1-5090-9773-2 |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910146457403321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |