2005 IEEE International Test Conference (ITC) : 8-10 November, 2005, Austin, TX
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| Titolo: |
2005 IEEE International Test Conference (ITC) : 8-10 November, 2005, Austin, TX
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005 |
| Disciplina: | 621.3815/48 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
| Semiconductors - Testing | |
| Electronics | |
| Electrical Engineering | |
| Electrical & Computer Engineering | |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2005 IEEE International Test Conference (ITC) : 8-10 November, 2005, Austin, TX |
| ISBN: | 1-5090-9767-8 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910146829703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |