2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
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| Titolo: |
2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE, 2012 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (408 pages) |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Defects |
| Integrated circuits - Design and construction | |
| Persona (resp. second.): | IEEE Staff |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Titolo autorizzato: | 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| ISBN: | 1-4673-0983-4 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910130653803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |