Record Nr.

UNINA9910130653803321

Titolo

2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

Pubbl/distr/stampa


[Place of publication not identified], : IEEE, 2012

ISBN

1-4673-0983-4

Descrizione fisica

1 online resource (408 pages)

Disciplina

621.3815

Soggetti

Integrated circuits - Defects

Integrated circuits - Design and construction

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph