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Autore: | Kempe Michael D |
Titolo: | Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules [[electronic resource] /] / Mike Kempe, Kent Terwilliger, and Dale Tarrant |
Pubblicazione: | Golden, CO : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2008] |
Descrizione fisica: | 18 unnumbered slides : digital, PDF file |
Soggetto topico: | Photovoltaic cells - Research |
Solar cells - Testing | |
Soggetto genere / forma: | Conference papers and proceedings. |
Altri autori: | TerwilligerKent TarrantD. E (Dale E.) |
Note generali: | Title from title screen (viewed Apr. 16, 2009). |
"Presented at the 33rd IEEE Photovoltaic Specialist[s] Conference held May 11-16, 2008 in San Diego, California." | |
Altri titoli varianti: | Stress Induced Degradation Modes in CIGSS Minimodules |
Titolo autorizzato: | Stress induced degradation modes in CIGSS minimodules |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910702878303321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |