Electromigration induced stress, a study into current induced resistance changes in VLSI interconnects : proefschrift / Violeta Petrescu
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| Autore: |
Petrescu, Violeta
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| Titolo: |
Electromigration induced stress, a study into current induced resistance changes in VLSI interconnects : proefschrift / Violeta Petrescu
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| Pubblicazione: | Netherlands, 1999 |
| Descrizione fisica: | 172 p. ; 25 cm |
| Disciplina: | 621.3815 |
| Soggetto topico: | Interconnects (Integrated circuit technology) - Materials - Dissertations, Academic |
| Electrodiffusion | |
| ISBN: | 9036513979 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991004357337707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |