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1. |
Record Nr. |
UNISALENTO991004357337707536 |
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Autore |
Petrescu, Violeta |
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Titolo |
Electromigration induced stress, a study into current induced resistance changes in VLSI interconnects : proefschrift / Violeta Petrescu |
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Pubbl/distr/stampa |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Interconnects (Integrated circuit technology) - Materials - Dissertations, Academic |
Electrodiffusion |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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