Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification
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| Autore: |
Gupta D. C
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| Titolo: |
Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification
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| Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 2000 |
| Disciplina: | 621.3815/2 |
| Soggetto topico: | Electrical & Computer Engineering |
| Engineering & Applied Sciences | |
| Electrical Engineering | |
| Persona (resp. second.): | BrownGeorge A |
| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Altri titoli varianti: | Gate Dielectric Integrity |
| Titolo autorizzato: | Gate Dielectric Integrity: Material, Process, and Tool Qualification |
| ISBN: | 0-8031-5431-3 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910164285003321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |