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Titolo: |
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
![]() |
Pubblicazione: | IEEE |
Disciplina: | 621.3815/48 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
Electronic digital computers - Circuits - Testing | |
Telecommunication | |
Radio frequency | |
Altri titoli varianti: | Autonomic Computing |
2006 IEEE International Test Conference | |
Titolo autorizzato: | 2006 IEEE International Test Conference ![]() |
ISBN: | 9781509090884 |
1509090886 | |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910142706203321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |