1.
Record Nr.
UNINA9910142706203321
Titolo
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
Pubbl/distr/stampa
IEEE
ISBN
9781509090884
1509090886
Disciplina
621.3815/48
Soggetti
Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Telecommunication
Radio frequency
Lingua di pubblicazione
Inglese
Formato
Materiale a stampa
Livello bibliografico
Monografia