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Autore: |
Geist Jon
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Titolo: |
Simulated sinewave testing of data acquisition systems using sine fitting and discrete fourier transform methods part 1 : frequency offset, random, quantization, and jitter noise / / Jon Geist; M. Yaqub Afridi
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Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2015 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (39 pages) : illustrations (color) |
Soggetto topico: | Data collection systems |
Frequencies of oscillating systems | |
Altri autori: |
AfridiM. Yaqub
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Note generali: | Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. |
July 2015. | |
Title from PDF title page (viewed July 30, 2015). | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | Simulated sinewave testing of data acquisition systems using sine fitting and discrete fourier transform methods part 1 |
Titolo autorizzato: | Simulated sinewave testing of data acquisition systems using sine fitting and discrete fourier transform methods part 1 ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910709597103321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |