Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings
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| Titolo: |
Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings
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| Pubblicazione: | Washington : , : U.S. National Bureau of Standards, , 1964 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (vi, 359 pages) : illustrations |
| Disciplina: | 535.5 |
| Soggetto topico: | Polarization (Light) |
| Surfaces (Technology) | |
| Thin films | |
| Persona (resp. second.): | KrugerJerome |
| PassagliaElio | |
| StrombergR. R. | |
| Note generali: | Contributed record: Metadata reviewed, not verified. Some fields updated by batch processes. |
| Edited by E. Passaglia, R.R. Strombery, and J. Kruger. | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Altri titoli varianti: | Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films |
| Titolo autorizzato: | Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910712920003321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |