4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society
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| Titolo: |
4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society
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| Pubblicazione: | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (84 pages) |
| Disciplina: | 621.381 |
| Soggetto topico: | Electronics - Design |
| Electronics - Testing | |
| Altri autori: |
OsseiranAdam
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| Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
| Altri titoli varianti: | Fourth Institute of Electrical and Electronics Engineers International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) |
| Titolo autorizzato: | 4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) |
| ISBN: | 1-5090-7977-7 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910145113403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |