1.

Record Nr.

UNINA9910145113403321

Titolo

4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications (delta 2008) : 23-25 January 2008, Hong Kong, China / / IEEE Computer Society

Pubbl/distr/stampa

Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2008

ISBN

1-5090-7977-7

Descrizione fisica

1 online resource (84 pages)

Altri autori (Persone)

OsseiranAdam

Disciplina

621.381

Soggetti

Electronics - Design

Electronics - Testing

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph