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18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : proceedings : 3-5 November, 2003, Boston, Massachusetts



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Titolo: 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : proceedings : 3-5 November, 2003, Boston, Massachusetts Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society Press, 2003
Soggetto topico: Integrated circuits - Design and construction - Very large scale integration
Fault-tolerant computing
Electrical & Computer Engineering
Electrical Engineering
Engineering & Applied Sciences
Persona (resp. second.): BolchiniCristiana
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : proceedings : 3-5 November, 2003, Boston, Massachusetts  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910872558103321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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