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Titolo: |
The 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems : proceedings : Boston, Massachusetts, 1-3 October 2008 / / edited by Cristiana Bolchini, Yong-Bin Kim, Dimitris Gizopoulos, and Mohammad Tehranipoor ; sponsored by The IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, The IEEE Computer Society Technical Committee on Fault Tolerant Computing
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Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2008 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (xxxi, 545 pages) |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction |
Fault-tolerant computing | |
Persona (resp. second.): | BolchiniCristiana |
KimYong-Bin | |
GizopoulosDimitris | |
TehranipoorMohammad H. <1974-> | |
Note generali: | Includes index. |
Titolo autorizzato: | The 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems ![]() |
ISBN: | 1-5090-8441-X |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996216505403316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |