Microwave photoelasticity : a resonant wavelength approach applied to PEEK polymer / / Peter J. Schemmel and Seth W. Waldstein

• Autore: Schemmel Peter J.
• Pubblicazione: Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , March 2020
• Descrizione fisica: 1 online resource (12 pages) : color illustrations
• Soggetto topico: Polymers; PEEK; Nondestructive tests; Photoelasticity; Materials tests
• Note generali: "March 2020."
• Nota di bibliografia: Includes bibliographical references (pages 11-12).
• Altri titoli varianti: Microwave photoelasticity
• Titolo autorizzato: Microwave photoelasticity
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 9910713497103321
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