Record Nr.

UNINA9910713497103321

Autore

Schemmel Peter J.

Titolo

Microwave photoelasticity : a resonant wavelength approach applied to PEEK polymer / / Peter J. Schemmel and Seth W. Waldstein

Pubbl/distr/stampa


Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , March 2020

Descrizione fisica

1 online resource (12 pages) : color illustrations

Collana

NASA/TM ; ; 2020-220499

Soggetti

Polymers

PEEK

Nondestructive tests

Photoelasticity

Materials tests

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

"March 2020."

Nota di bibliografia

Includes bibliographical references (pages 11-12).