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| Titolo: |
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006
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| Pubblicazione: | IEEE |
| Disciplina: | 621.3815/48 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Testing |
| Electronic digital computers - Circuits - Testing | |
| Telecommunication | |
| Radio frequency | |
| Altri titoli varianti: | Autonomic Computing |
| 2006 IEEE International Test Conference | |
| Titolo autorizzato: | 2006 IEEE International Test Conference ![]() |
| ISBN: | 9781509090884 |
| 1509090886 | |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910142706203321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |