2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Visualizza in formato marc)
(Visualizza in BIBFRAME)
| Titolo: |
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
|
| Pubblicazione: | [Place of publication not identified] : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2020 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Disciplina: | 519.5 |
| Soggetto topico: | Robust statistics |
| Sommario/riassunto: | On Line Testing and Robust Electronic System Design. |
| Altri titoli varianti: | 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design |
| Titolo autorizzato: | 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
| ISBN: | 1-7281-8187-9 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996575519503316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |