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Autore: | Woodworth Andrew A. |
Titolo: | Characterization of 4H <000-1> silicon carbide films grown by solvent-laser heated floating zone / / Andrew A. Woodworth [and four others] |
Pubblicazione: | Cleveland, Ohio : , : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center, , 2012 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (6 pages) : illustrations |
Soggetto topico: | Silicon carbides |
Single crystals | |
Crystal growth | |
Laser heating | |
X ray diffraction | |
Diffraction patterns | |
Note generali: | Title from title screen (viewed on Aug. 21, 2014). |
"September 2012." | |
"Prepared for the 2012 Spring Meeting and Exhibit sponsored by the Materials Research Society, San Francisco, California, April 9-13, 2012." | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 6). |
Titolo autorizzato: | Characterization of 4H silicon carbide films grown by solvent-laser heated floating zone |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910702487203321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |