Capacitance cell measurement of the out-of-plane expansion of thin films [[electronic resource] /] / Chad R. Snyder, Frederick I. Mopsik
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| Autore: |
Snyder Chad R
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| Titolo: |
Capacitance cell measurement of the out-of-plane expansion of thin films [[electronic resource] /] / Chad R. Snyder, Frederick I. Mopsik
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| Pubblicazione: | [Gaithersburg, Md.] : , : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, , [2001] |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (x, 32 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Thin-film circuits |
| Thin films - Thermal properties | |
| Expansion (Heat) - Measurement | |
| Altri autori: |
MopsikF. I
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| Note generali: | Title from title screen (viewed Apr. 19, 2011). |
| "November 2001." | |
| "CODEN: NSPUE2." | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (pages 31-32). |
| Titolo autorizzato: | Capacitance cell measurement of the out-of-plane expansion of thin films |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910699291703321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
NIST recommended practice guide.
NIST special publication ; ; no. 960-7.