AFM-based microelectrical characterization of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se₂ thin films [[electronic resource] /] / C.-S. Jiang ... [and others]
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| Titolo: |
AFM-based microelectrical characterization of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se₂ thin films [[electronic resource] /] / C.-S. Jiang ... [and others]
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| Pubblicazione: | Golden, Colo. : , : National Renewable Energy Laboratory, , [2005] |
| Descrizione fisica: | 1 volume : digital, PDF file |
| Soggetto topico: | Thin films - Electric properties |
| Altri autori: |
JiangC.-S (Chun-Sheng)
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on Mar. 27, 2006). |
| "February 2005." | |
| Altri titoli varianti: | AFM-based microelectrical characterization of grain boundaries in Cu |
| Titolo autorizzato: | AFM-based microelectrical characterization of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se₂ thin films |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910694816803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |